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垂直腔面发射激光器测试服务

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垂直腔面发射激光器测试服务

可提供专业高效的VCSEL芯片芯片测试解决方案

测试种类:

3D传感VCSEL 可涵盖的波长:600nm至 1200nm

测试方式:

Chip测试


Wafer测试


测试指标:

·Ith 阈值

·Vop 电压/p>

·P 功率

·SE 斜效率

·FF 远场发散角

·PCE 光电效率

·LiPo 饱和

·Kink 功率扭折

·λP 波长

·∆λ 半波谱宽

·NF 近场眼数



我们的优势:

· 全球独家提供全新先进的VCSEL芯片测试解决方案和OCR跟踪解决方案

· 测试机高度集成,技术能力、稳定性和多样性已超越欧美同类型设备厂商水平

· 设备得到欧美尖端客户认可并已出口欧美

· 全球成本较低的解决方案

· AOI与测试相集成